X射線(xiàn)衍射儀（XRD）是用于分析各種問(wèn)題的重要的非破壞性工具之一，從流體到粉末和晶體。從研究到生產(chǎn)和工程，XRD在材料特點(diǎn)分析和質(zhì)量控制中是一個(gè)*的方法。理學(xué)公司與學(xué)術(shù)界用戶(hù)、工業(yè)用戶(hù)合作開(kāi)發(fā)了一系列衍射儀，提供了技術(shù)先進(jìn)、靈活性強(qiáng)且性?xún)r(jià)比高的衍射解決方法。

　　

　　X射線(xiàn)衍射儀技術(shù)(X-raydiffraction，XRD)。通過(guò)對(duì)材料進(jìn)行X射線(xiàn)衍射，分析其衍射圖譜，獲得材料的成分、材料內(nèi)部原子或分子的結(jié)構(gòu)或形態(tài)等信息的研究手段。X射線(xiàn)衍射分析法是研究物質(zhì)的物相和晶體結(jié)構(gòu)的主要方法。當(dāng)某物質(zhì)(晶體或非晶體)進(jìn)行衍射分析時(shí),該物質(zhì)被X射線(xiàn)照射產(chǎn)生不同程度的衍射現(xiàn)象,物質(zhì)組成、晶型、分子內(nèi)成鍵方式、分子的構(gòu)型、構(gòu)象等決定該物質(zhì)產(chǎn)生*的衍射圖譜。X射線(xiàn)衍射方法具有不損傷樣品、無(wú)污染、快捷、測(cè)量精度高、能得到有關(guān)晶體完整性的大量信息等優(yōu)點(diǎn)。因此,X射線(xiàn)衍射分析法作為材料結(jié)構(gòu)和成分分析的一種現(xiàn)代科學(xué)方法,已逐步在各學(xué)科研究和生產(chǎn)中廣泛應(yīng)用。

　　

　　X射線(xiàn)衍射儀使用注意事項(xiàng)：

　　

　　（1）固體樣品表面＞10×10mm，厚度在5μm以上，表面必須平整，可以用幾塊粘貼一起。

　　

　?。?）對(duì)于片狀、圓拄狀樣品會(huì)存在嚴(yán)重的擇優(yōu)取向，衍射強(qiáng)度異常，需提供測(cè)試方向。

　　

　　（3）對(duì)于測(cè)量金屬樣品的微觀應(yīng)力（晶格畸變），測(cè)量殘余奧氏體，要求制備成金相樣品，并進(jìn)行普通拋光或電解拋光，消除表面應(yīng)變層。

　　

　?。?）粉末樣品要求磨成320目的粒度，直徑約40微米，重量大于5g。